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背景干擾主要是指原子化過程中所產(chǎn)生的光譜干擾，主要有分子吸收干擾和散射干擾，干擾嚴(yán)重時，不能進(jìn)行測定。

 1. 原子吸收分光光度分析法分子吸收與光散射

    分子吸收：原子化過程中，存在或生成的分子對特征輻射產(chǎn)生的吸收。分子光譜是帶狀光譜，勢必在一定波長范圍內(nèi)產(chǎn)生干擾。

    光散射：原子化過程中，存在或生成的微粒使光產(chǎn)生的散射現(xiàn)象。

    產(chǎn)生正偏差，石墨爐原子化法比火焰法產(chǎn)生的干擾嚴(yán)重

    如何消除？

2.原子吸收分光光度分析法背景干擾校正方法

  (1) 氘燈連續(xù)光譜背景校正

旋轉(zhuǎn)斬光器交替使氘燈提供的連續(xù)光譜和空心陰極燈提供的共振線通過火焰；

連續(xù)光譜通過時：測定的為背景吸收(此時的共振線吸收相對于總吸收可忽略)；

共振線通過時，

測定總吸收；

差值為有效吸收；

 （2）塞曼(Zeeman)效應(yīng)背景校正法

Zeeman效應(yīng)：在磁場作用下簡并的譜線發(fā)生裂分的現(xiàn)象；

校正原理：原子化器加磁場后，隨旋轉(zhuǎn)偏振器的轉(zhuǎn)動，當(dāng)平行磁場的偏振光通過火焰時，產(chǎn)生總吸收；當(dāng)垂直磁場的偏振光通過火焰時，只產(chǎn)生背景吸收；

見下頁圖示：

方式：光源調(diào)制法和共振線調(diào)制法（應(yīng)用較多），后者又分為恒定磁場調(diào)制方式和可變磁場調(diào)制方式。

優(yōu)點：校正能力強(qiáng)（可校正背景A　1.2～2.0）；

可校正波長范圍寬：190 ～ 900nm ；

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